LSKM-200柯尔显微镜是一种基于磁光柯尔效应原理设计的用于样品磁畴动态/静态观测的设备,Kerr系统架构不仅具备观测待测物的磁区结构的功能,亦可同时量测出磁化曲线,并且透过切换两道光(L-MOKE/T-MOKE)及选择偏振型态(P mode/S mode)的功能,可以使用四种不同型态的磁光柯尔效应来进行实验。柯尔显微镜通过相机拍摄不同磁场下形成的图案,经过背景消除,对比增强,灰度计算等可量测磁性材料、磁性微结构的局部磁特性。
磁膜厚度10 nm在不同外加磁场下的磁区结构变化图 (L-MOKE及P mode),其外加磁场分别为:
(a)50Gauss;(b)30Gauss;(c)20Gauss;(d)10Gauss;(e)-10Gauss;(f)-20Gauss;(g)-30Gauss;(h)-50Gauss。
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